Analyse

Mit dem Knowhow im Bereich Materialanalyse unterstützt Alineason auch die Kunden bei der Materialforschung.

Der Analyseservice wird mit gut etablierten Messaufbauten ausgeführt und deckt drei wichtige Materialeigenschaften ab ― Morphologie, Struktur und Oberflächenchemie, realisiert jeweils durch Rasterkraftmikroskop, Röntgenbeugung und Photoelektronenspektroskopie.

AFM ― Rasterkraftmikroskopie

AFM ― Atomic Force MicroscopyAnalyse der Oberflächenmorphologie erfolgt durch modernes hochauflösendes Rasterkraftmikroskop. Eigenschaften wie zum Beispiel Rauhigkeit, Korngröße und Oberflächenausscheidungen können mit hoher Genauigkeit charakterisiert werden.

Analyse: Rasterkraftmikroskopie

XRD ― Röntgenbeugung

Analyse: XRD ― RöntgenbeugungStrukturelle Eigenschaften Ihrer Materialien werden mithilfe von verschiedenen röntgenographischen Methoden untersucht. Zu unseren Standardangeboten gehören

  • Phasenbestimmung in polykristallinen Materialien
  • Strukturbestimmung in polykristallinen und einkristallinen Materialien
  • Bestimmung der Texturen
  • Reflektivitätsmessung zur Bestimmung der Schichtdicke, Schichtdichte und Grenzflächenrauigkeit

PES ― Photoelektronenspektroskopie

Analyse: PES ― PhotoelektronenspektroskopieDie Untersuchung der chemischen und elektronischen Eigenschaften von Oberflächen und Grenzflächen erfolgt durch hochauflösende monochromatisierte Röntgen-Photoelektronspektroskopie (XPS) sowie Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS). Damit können eine Reihe von wichtigen Eigenschaften ermittelt werden wie zum Beispiel:

  • Chemische Bindungszustände,
  • Chemische Zusammensetzungen,
  • Position des Ferminiveaus,
  • Austrittsarbeit und Ionisationspotential.