Mit dem Knowhow im Bereich Materialanalyse unterstützt Alineason auch die Kunden bei der Materialforschung.
Der Analyseservice wird mit gut etablierten Messaufbauten ausgeführt und deckt drei wichtige Materialeigenschaften ab ― Morphologie, Struktur und Oberflächenchemie, realisiert jeweils durch Rasterkraftmikroskop, Röntgenbeugung und Photoelektronenspektroskopie.
AFM ― Rasterkraftmikroskopie
Analyse der Oberflächenmorphologie erfolgt durch modernes hochauflösendes Rasterkraftmikroskop. Eigenschaften wie zum Beispiel Rauhigkeit, Korngröße und Oberflächenausscheidungen können mit hoher Genauigkeit charakterisiert werden.
XRD ― Röntgenbeugung
Strukturelle Eigenschaften Ihrer Materialien werden mithilfe von verschiedenen röntgenographischen Methoden untersucht. Zu unseren Standardangeboten gehören
- Phasenbestimmung in polykristallinen Materialien
- Strukturbestimmung in polykristallinen und einkristallinen Materialien
- Bestimmung der Texturen
- Reflektivitätsmessung zur Bestimmung der Schichtdicke, Schichtdichte und Grenzflächenrauigkeit
PES ― Photoelektronenspektroskopie
Die Untersuchung der chemischen und elektronischen Eigenschaften von Oberflächen und Grenzflächen erfolgt durch hochauflösende monochromatisierte Röntgen-Photoelektronspektroskopie (XPS) sowie Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS). Damit können eine Reihe von wichtigen Eigenschaften ermittelt werden wie zum Beispiel:
- Chemische Bindungszustände,
- Chemische Zusammensetzungen,
- Position des Ferminiveaus,
- Austrittsarbeit und Ionisationspotential.